安捷倫i1000/Agilenti1000
- 產(chǎn)品名稱:安捷倫i1000/Agilenti1000
- 產(chǎn)品型號(hào):
- 產(chǎn)品廠商:agilent
- 產(chǎn)品文檔:
安捷倫i1000/Agilenti1000
的詳細(xì)介紹
i1000在線測(cè)試介紹
一、i1000在線測(cè)試系統(tǒng)
1.完整的在線測(cè)試系統(tǒng):
(1)模擬測(cè)試
(2)上電測(cè)試
(3)數(shù)字測(cè)試
(4)與MDA相似的用戶接口與夾具設(shè)計(jì),方便使用,容易學(xué)習(xí).
2.全新抗干擾設(shè)計(jì),使數(shù)字測(cè)試方便快速.
3.使用安捷倫*新的在線測(cè)試技術(shù)方案.
二、安捷倫i1000系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)
優(yōu)勢(shì)1 : a,治具結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單 b,系統(tǒng)維護(hù)容易
優(yōu)勢(shì)2 : 完整的測(cè)試涵蓋率
VTEP v2.0 (無(wú)矢量測(cè)試)
Digital Test (數(shù)字測(cè)試)
OBP (在線燒錄)
Bscan (邊界掃描)
Functional Test (功能測(cè)試)
CET (拓展測(cè)試)
優(yōu)勢(shì)3: 簡(jiǎn)單易懂的用戶接口
PS:安捷倫i1000在線測(cè)試系統(tǒng) 提供完整的在線測(cè)試功能,擁有與一般MDA相似 的接口,可與常用的MDA夾具相容, 使用方便,學(xué)習(xí)快速.同時(shí)又可使用安捷倫在線測(cè)試的各項(xiàng)*新技術(shù),是性價(jià)比極高的產(chǎn)線檢測(cè)設(shè)備。
三、 治具結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單
1. i1000的壓床式治具與一般MDA所使用的壓床式治具兼容.
(1)治具的投資可以不用浪費(fèi)
(2)治具可以從很多家治具廠獲得
(3)人員的訓(xùn)練不用重來(lái)
2.i1000使用新的扁平電纜技術(shù),在節(jié)省治具成本的同時(shí)可以提升數(shù)字測(cè)試的訊號(hào)質(zhì)量,達(dá)到與真空治具相當(dāng)?shù)慕Y(jié)果.
3.i1000的數(shù)字測(cè)試采用每信道可調(diào)的設(shè)計(jì)相較于傳統(tǒng)的
機(jī)臺(tái)制作治具與程序的時(shí)間大約可以節(jié)省半天至**.
四、系統(tǒng)維護(hù)方便容易
單相電源即可啟動(dòng) 系統(tǒng)可由前方開(kāi)啟 無(wú)須真空磊浦
拉拖式的系統(tǒng)架構(gòu) 方便組裝維修
五、完整的測(cè)試涵蓋率
VTEP v2.0 (無(wú)矢量測(cè)試) Digital Test (數(shù)字測(cè)試) OBP (在線燒錄)
Bscan (邊界掃描) Functional Test (功能測(cè)試) CET (覆蓋擴(kuò)展測(cè)試)
·詳述每通道可調(diào)(Per-Pin Programmable)的好處
(1)真正的1:1結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)能夠讓i1000連續(xù)不斷的監(jiān)控驅(qū)動(dòng)邏輯。
(2)每一組驅(qū)動(dòng)邏輯電位都有一個(gè)接收電位。
1.進(jìn)行數(shù)字測(cè)試的時(shí)候,需要知道芯片那些管腳是3.3V, 哪些5V,或者2.5V,1.1V等等。
2.每信道可調(diào)的數(shù)字測(cè)試系統(tǒng),每個(gè)通道都可以被設(shè)定為任何邏輯準(zhǔn)位,所以只要把電壓與接地點(diǎn)找出來(lái),其余點(diǎn)都可以任意改變,如此對(duì)于做治具與程序的時(shí)間大約可以節(jié)省半天至**。
3.每信道可調(diào)的數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)還可以把任意的信道直接驅(qū)動(dòng)為高電位(drive high)或者低電位(drive low),以便于調(diào)試。
每通道可調(diào)(Per-Pin Programmable)每通道可調(diào)的好處–A節(jié)省系統(tǒng)成本,以其它廠商提供的數(shù)字測(cè)試卡來(lái)看 每片卡片支持64個(gè)通道 但只可設(shè)定兩種邏輯位準(zhǔn)。
問(wèn)題:
如果有10個(gè)管腳須同時(shí)進(jìn)行數(shù)字測(cè)試, 但有 4組不同的邏輯位準(zhǔn)設(shè)定 – 3.3V, 1.5V, 1.05V, 2.0V.如果每一張數(shù)字測(cè)試卡有64組通道請(qǐng)問(wèn)總共需要幾張數(shù)字測(cè)試卡 ?
如果不是每通道可調(diào) : 將需要兩張數(shù)字卡總共需用128個(gè)數(shù)字通道來(lái)滿足10個(gè)通道的測(cè)試
每通道可調(diào)的好處:i1000是**具有這項(xiàng)優(yōu)勢(shì)的壓床ICTi1000數(shù)字測(cè)試卡、提供 64組獨(dú)立可以調(diào)整的通道、64組準(zhǔn)位與頻率都可以獨(dú)立調(diào)整。
問(wèn)題:
如果有10個(gè)管腳須同時(shí)進(jìn)行數(shù)字測(cè)試, 但有4組不同的邏輯訊號(hào)設(shè)定 – 3.3V, 1.5V, 1.05V, 2.0V.如果每一張數(shù)字測(cè)試卡有64組通道,請(qǐng)問(wèn)總共需要幾張數(shù)字測(cè)試卡 ?
答案:只需要一張i1000數(shù)字測(cè)試卡–減少花費(fèi) –治具制作較為簡(jiǎn)單
六、VTEP測(cè)試應(yīng)用
Agilent VTEP**技術(shù)的擴(kuò)展版本可以用于:
(1)超小型封裝
(2)倒裝芯片
(3)帶有*小或不帶引線框的器件
(4)以及裝有熱散器的器件
我們知道隨著PCBA上的器件封裝變得越來(lái)越小、越來(lái)越密集,電子制造商在檢測(cè)這些器件的信號(hào)針腳開(kāi)路時(shí),面臨的挑戰(zhàn)也與日俱增。另外,為使傳統(tǒng)程序庫(kù)適應(yīng)生產(chǎn)測(cè)試,制造商還必須面對(duì)程序接入問(wèn)題和產(chǎn)品上市所需時(shí)間(time-to-market)的壓力。鑒于此,越來(lái)越多的制造商更加傾向于采用無(wú)矢量測(cè)試解決方案,以*有效的方式保持*大的覆蓋范圍。
七、在線燒錄OBP
1.提供在線燒錄OBP(支持SPI格式及I2c格式) 透過(guò)i1000的圖形用戶界面
可以輕易的進(jìn)行在線刻錄程序設(shè)定。
Connect A0 –A2 SDA SCL Function Address Inputs Serial Data Serial Clock Input I2C 介面使用 SDATA 及 SCLK 兩個(gè)輸入腳位,稱為 I2C Bus,所以支援 I2C 介面的 IC 必須提供這 2 個(gè)輸入腳位。SDATA 為串列資料的輸入腳位、SCLK 為資料輸入 的同步信號(hào)腳位。
八、在線燒錄概念
I2C IC ( EEPROM AT24C02) 由於是串列傳送資料,每一位元必須與 SCLK同步,以保證資料能正確地被接收。藉由 SDATA 與 SCLK 信號(hào)間的時(shí)序差異, SDATA 線上的信號(hào)可分為命令 (Command) 及資料 (Data) 兩類(lèi)。 I2C 通訊協(xié)定基本上是由發(fā)送端傳送 START COMMAND 啟動(dòng),隨后為一連串的DATA,而在傳送每一筆DATA (BYTE或WORD)后,接收端須回應(yīng)一ACK信號(hào)以作確定。 *后發(fā)送端傳送STOP COMMAND作為結(jié)束 Start and Stop Definition SDA SCL 、START,STOP COMMAND與DATA的區(qū)別 Output Acknowledge SCL 1 8 9 DATA IN DATA OUT START 、接收端回應(yīng)ACK ACKNOWLEDGE MWIRE Serial EEPROM基本概念:MWIRE Serial EEPROM主要使用 Chip Select(CS)、Serial Clock(CLK)、Data In(DI)、 Data Out(DO) 四個(gè)腳位 ,EEPROM是以 93為編號(hào)開(kāi)頭之IC,例如93C46、 93C66等
九、邊界掃描(Boundary-Scan)
2.完整的邊界掃描測(cè)試(Bscan Test)與其他功能測(cè)試
測(cè)試 BSCAN 測(cè)試的條件 :
(1)待測(cè) IC 必須要支援 BSCAN 的測(cè)試
(2)支援 BSCAN 測(cè)試的 IC 都會(huì)有一個(gè)由 IC 制造廠商所提供的對(duì)應(yīng)檔案 Boundary-Scan Description Language (BSDL)(IC的封裝語(yǔ)言描述)。
基本在線邊界掃描測(cè)試(In-circuit Bscan Connect Tests)
進(jìn)階邊界掃描測(cè)試互連測(cè)試(Advance Interconnect Bscan Test)
十、CET(Cover-Extend Technology)覆蓋擴(kuò)展測(cè)試技術(shù)
結(jié)合VTEP與邊界掃描的新技術(shù): CET
十一、覆蓋擴(kuò)展技術(shù)(CET)是如何進(jìn)行工作?
1.VTEP 傳感器位于被測(cè)元件(例如連接器)上,它能夠根據(jù)電容特性選取激勵(lì)信號(hào)。
2.傳統(tǒng)的 VTEP 方法需要有測(cè)點(diǎn)(例如通過(guò)探針)來(lái)提供激勵(lì)信號(hào)。而覆蓋擴(kuò)展技術(shù)則是依靠邊界掃描器件來(lái)提供激勵(lì)信號(hào)。
3.邊界掃描器件不需要每個(gè)引腳都放探針。
4.根據(jù) IEEE 1149.x 標(biāo)準(zhǔn)(只使用測(cè)試接入端口),用戶可以向連接器提供必要的激勵(lì)信號(hào)。
5.邊界掃描器件和 VTEP 傳感器之間的路徑缺陷(例如開(kāi)路)將影響傳送到傳感器的激勵(lì)信號(hào)。
6.ICT 系統(tǒng)對(duì)結(jié)果進(jìn)行捕獲和診斷,因此會(huì)檢測(cè)到缺陷。
十二、覆蓋擴(kuò)展優(yōu)點(diǎn)(CET)
1.廣泛的測(cè)試范圍,不需要測(cè)點(diǎn)
2.可節(jié)省夾具和 ICT 測(cè)試資源,降低測(cè)試成本
3.通過(guò)降低應(yīng)力敏感型封裝(例如 BGA)上的應(yīng)力,提高電路板質(zhì)量
十三、Library與3070共享VCL/PCF數(shù)字測(cè)試文件
Vector Control Language 向量控制語(yǔ)言(VCL).
Pattern Capture Format 模式捕獲格式(PCF).
是兩種3070用來(lái)描述digital library的語(yǔ)言.一般的數(shù)字測(cè)試需要使用預(yù)先設(shè)定好的數(shù)字測(cè)試文件(Digital LIB)以安捷倫3070所使用的PCF, VCL格式 編寫(xiě)成的數(shù)字測(cè)試文件是目前世界上 數(shù)量*多的數(shù)字測(cè)試文件(累積超過(guò)20年)i1000可以直接使用這些文件
十四、i1000 操作界面_可選英文或中文
十五、i1000軟件: 程序發(fā)展及編輯界面
十六、好用的數(shù)字調(diào)適接口
十七、淺談產(chǎn)線常用的設(shè)備-MDA
MDA :常用的產(chǎn)線測(cè)試設(shè)備。主要用來(lái)發(fā)現(xiàn)在生產(chǎn)流程中所產(chǎn)生的錯(cuò)誤,比如在不同組件點(diǎn) 因?yàn)楹稿a** 產(chǎn)生無(wú)法預(yù)期的”開(kāi)路” 或”短路”,或者是測(cè)試出 錯(cuò)誤的被動(dòng)組件 比如 電阻 電容 電桿等組件,如果加上HP/Agilent**的Test Jet技術(shù)MDA還可以用來(lái)測(cè)試IC,或連接器上的pin腳開(kāi)路.但是MDA無(wú)法偵測(cè)出下面的幾種狀況即使板子可以通過(guò)MDA的檢測(cè) 不代表這塊板子可以順利上電啟動(dòng)運(yùn)作 這主要是因?yàn)镸DA不進(jìn)行上電測(cè)試.對(duì)于BGA芯片底下的數(shù)百個(gè) 甚至上千個(gè)的錫球 在經(jīng)過(guò)回焊爐后 是否與PC板焊接良好?目前MDA使用的Test Jet技術(shù)無(wú)法有效的測(cè)試BGA錫球的連接性對(duì)于覆晶BGA (Flip chip BGA) Test Jet更是束手無(wú)策.
對(duì)于高密度的連接器Test Jet的測(cè)試效果也不佳.
十八、測(cè)試功能應(yīng)用
1.模擬測(cè)試(MDA)
開(kāi)短路、電阻、電容、二極體、三極體、光耦元件、電容三端測(cè)試、保護(hù)二極體測(cè)試。
2.上電高壓量測(cè)
量測(cè)待測(cè)物各個(gè)狀態(tài)下的220AC工作輸出。
3.功能模擬遙控發(fā)碼測(cè)試
模擬遙控發(fā)碼IR給待測(cè)物、從而控制待測(cè)試物的工作狀態(tài)。
4.功能模擬溫度測(cè)試
模擬溫度給待測(cè)試、從而達(dá)到待測(cè)物的工作條件。
5.EEPROM 記憶測(cè)試
測(cè)試待測(cè)物在任何時(shí)刻停止當(dāng)前狀態(tài)、恢復(fù)后仍然是此工作狀態(tài)。
6.顯示器功能測(cè)試
測(cè)試待測(cè)物在各個(gè)顯示模式下的工作狀態(tài)及工作電壓。